TY  - GENERIC
DO  - 10.20944/preprints202308.1389.v1
UR  - http://dx.doi.org/10.20944/preprints202308.1389.v1
TI  - Complementary Characterization of Polycrystalline Copper-Nitride Films by UV-MIR (0.2-40 µm) Ellipsometry and FIB-SEM Microscopy
T2  - Preprints
AU  - Márquez, Emilio
AU  - Blanco, Eduardo
AU  - Mánuel, J. Manuel
AU  - Ballester, Manuel
AU  - García-Gurrea, Marcos
AU  - Fernández, Susana
AU  - Rordríguez-Tapiador, María Isabel
AU  - Willomitzer, Florian
AU  - Katsaggelos, Aggelos K.
PY  - 2023
DA  - 2023/08/18
PB  - Preprints